掃描式電子顯微鏡/掃描電鏡主要功能
掃描式電子顯微鏡主要功能有三：5~1,000,000倍影像觀察、真實影像尺規量測、點-線-面成分分析。影觀察方面，掃描式電子顯微鏡涵蓋了低倍率～高倍率的影像觀察，更包括了二次電子像、被散電子像、成分像、拓樸像等多種影像觀察模式。且告種影像還能以任意比例進行疊圖，方便對比使用。
掃描式電子顯微鏡在成分分析方面主要有EDS能譜、WDS波譜兩種偵測器可以搭配。EDS能譜分析速度較快，元素檢測極限約1000~2000ppm。WDS波譜分析速度較慢，但元素偵測極限較好，約在10~100ppm。EDS成分分析分析方法上面有三種模式可以選擇。點分析：奈米範圍內微小區域成分分析，可以幫助使用者做特定區域的分析。線掃描：可以觀察掃描線段區域的成分變化。面掃描：可以觀察各成分的2D分布狀況。
在微觀尺度下，許多尺規量測都是間接式的，掃描式電子顯微鏡可以提供直接影像尺規量測，搭配適當的尺規量測標準件，量測結果具有相得的參考價值。
擁有良好的景深，萬倍放大倍率
觀察影像、奈米尺度下進行尺規量測
掃描式電子顯微鏡擁有強大的影像放大功能，從5～1000000放大倍率。特殊的電子光學特性，讓掃描式電子顯鏡經擁有良好的景深。在各種景深位置，不產生失焦的狀況，都能夠觀察到清晰的圖像。
掃描式電子顯微鏡可以提供直觀的尺規量測功能。在微米～奈米的尺度下直接對樣品影像進行尺規量測。搭配適當尺規量測標準件，可作直接尺規量測。
二次電子影像，完整的型態凹凸起伏
可觀察背散電子像、成分像、拓樸像
可偵測的二次電子產生於物體表面的5~10奈米範圍內，因此二次電子影像具有良好的空間分辨率，掃描式電子顯微鏡二次電子影像可以輕鬆達到奈米級別分辨率，在無干擾的狀況下觀察樣品影像。
可偵測的背散電子產生於樣品表面50~200奈米範圍內，雖然分辨率不如二次電子像，但背散電子訊號強度較大，且可以觀察背散電子像、成分像、拓樸像等多種影像。對影像觀察、成份比較相當有幫助。
EDS 點-線-面的定性、定量、成分分佈圖
樣品艙X/Y/Z/R/T五軸可調
搭配EDS能譜可快速進行元素定性、定量分析。可選三種分析方法：點分析--奈米區域範圍內的元素分析。線分析--掃描線段範圍的元素變化。面分析--各元素的2D空間分佈狀況。
掃描式電子顯微鏡最多可搭配X/Y/Z/R旋轉/T傾斜，五組可調軸。方便進行影像尋找與觀察。可以快速調整樣品位置到最佳觀察狀況。優中心化的五軸調整後，樣品聚焦位置不改變。
返回扫描电镜页面
热门资讯
加速电压控制在 7 kV，能观察到样品表面的台阶。
样品:陶瓷 SEI 加速电压 7 kV 倍率 × 11,000
根据观察需求制备样品，也能观察生物样品。
样品:小鼠气管 SEI 加速电压 8 kV 倍率 × 10,000 化学固定 LV-SEM 内冷冻干燥法
能清晰地观察到附着在样品表面的细小颗粒。
样品:金属粉末 SEI 加速电压 5 kV 倍率 × 5,000
能确认淀粉(球状结构)
样品:土豆 BES 加速电压 10 kV 低真空模式 30 Pa 倍率 × 250 LV 样品冷却架
离子束加工后， BEC 能确认金的通道衬度。
样品:铜基板截面 BEC 加速电压 5 kV 倍率 × 2,500
低加速电压能减轻电子束的辐照损伤，也能观察易受热损伤的样品。
样品:膈膜 SEI 加速电压 2.7 kV 倍率 × 20,000
相关产品
JCM-7000桌上型扫描电镜
JSM-IT200系列 扫描电子显微镜
JSM-IT500扫描电子显微镜
JCM-7000台式扫描电镜，影像观察＋成份分析＋尺规量测。快速高丶低真空切换，能观察二次电子影像丶被散电子影像，功能完整强大。
JSM-IT200扫描电镜是日本电子在2018 年将在全球同步推出的全新数字化扫描电镜，其性能优异、自动化程度高、操控界面人性化及稳定性最高的扫描电镜，可广泛的应用于各个领域。
JSM-IT500是JEOL InTouchScope系列的新机型。 从设定视野到生成报告，用于分析的软件整合于一体，加快了作业速度！是一款无缝操作，使用更加方便的扫描电子显微镜。
