JCM-6000PLUS桌上型扫描电镜
显微镜＋影像观察＋成份分析＋尺规量测
高真空模式二次电子像(SEI)拥有更好的图像分辨率与景深。
高真空二次电图像能达到更高的分辨率与景深，能达到更大的放大倍率，观察起伏度更大得样品。透过二次电子图(SEI)像与背散电子图(BSI)像的比较，更能清楚地了解样品表面结构细节。高真空状态下也能切换到背散电子图像，观察样品的成分像。
低真空模式背散电子图像(BSI)，无镀金直接观察含水份样品。
JCM-6000PLUS标配低真空模式，在低真空状态下，样品仓中少量的气体可以中和样品表面的电荷，降低样品放电撞，直接观察未镀金的不导电样品。低真空模式也能有效观察部分含水气或油气样品。
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