FAIL (the browser should render some flash content, not this).
首頁>產品目錄>EM-09100IS

相關產品:制樣設備
JEOL生產高精度的制樣設備,從製備納米尺寸樣品的聚焦離子束系統(FIB)到製備大面積樣品剖面的拋光機,我們為半導體元器件、金屬、陶瓷和多層樣品提供各種專業、快速、高精度的剖面制樣設備。

SEM基本知識資料
掃描電子顯微鏡在納米技術中得到了新的應用。納米加工技術十分先進。為此,開發出新的掃描電子顯微鏡技術,可供研究人員觀察所得到的結構。




熱門產品簡介
  • 離子色譜儀792 basic IC
  • JSM 6390掃描式電子顯微鏡
  • JSX 3400RⅡ桌上型ROHS分析儀
  • X-MET3000TXR+便擕式ROHS分析儀
  • X-Strata980全自動ROHS測厚儀
  • X-MET3000TX+便擕式合金分類儀
  • SAT 5100焊錫可靠性測試儀
  • X射線螢光鍍層測厚儀 CMI 900
  • OSPREY800 OSP厚度分析儀

  • 離子切片儀EM-09100IS Ion Slicer
    利用離子切片儀除了需要將樣品切成矩形薄片外不需要常規的透射電鏡制樣過程(電解液或前期處理的手工研磨,凹坑機研磨)可直接製備薄膜樣品.用於TEM / STEM / SEM / EPMA / AUGER的創新的樣品製備方法

    主要特点:
    1.高品質的透射電鏡前期製備
    2.快速加工
    3.無需複雜前處理
    4.最小限度表面損傷

    技術參數
    加速電壓 1 ∼ 8kV
    傾斜角 最大±6º
    離子束直徑 500μm(FWHM)
    CCD 內置
    儀器尺寸 500mm(W)×600mm(D)×542mm(H)、63kg
    切片速度 5μm/min(加速電圧:8kV、Si換算)
    最大樣品尺寸 2.8mmD×0.5 mmW×0.1mmH
    真空抽氣系統 涡轮分子泵或机械泵

    离子切片仪制备薄膜样品比传统的制备工具快速,简单. 低能量,低角度(0° 到 6°)的氩气离子束通过遮光带照射样品,彻底消除离子束对样品的损伤.即使是柔软的材料,样品制备质量也极好.离子切片仪能够有效制备不同成份的样品甚至含有多孔合成物

     

    Copyright © 2006 StarJoy limited
    TEL:+886-2-2992 2806 Fax:+886-2-2992 3106
    15F-1,No.107,Sec.1,Zhangshan RD.,Xinzhuang City,Taipei County 242,TaiWan